دانلود کتاب Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications

تحلیل الگوی حاشیه برای اندازه گیری نوری: نظریه ، الگوریتم ها و برنامه ها

زبان : English

نویسندگان : Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla

ناشر : John Wiley & Sons, Inc

سال انتشار : July 2014

ISBN (شابک) : 0099757915, 9780099757917

ویرایش : [New Ed]

سری : New Directions in Critical Theory

تعداد صفحات : 345

حجم : 6 مگابایت

فرمت کتاب : pdf

قیمت : 36000 تومان